科研学术

　　1月25日至28日，第62届可靠性与维修性学术年会（The 62th Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS2016) 在美国亚利桑那洲图森举行。大会涵盖了可靠性、维修性、安全性以及故障诊断领域的所有方面，内容既有前沿的学术研究成果，又有来源于工业界的案例，共吸引了来自21个国家和地区的500余名学者与工业界代表参加。我校机电学院可靠性工程研究所所长黄洪钟教授、张小玲副教授及研究生李姝颖受邀参加本次学术盛会，并在大会中发表和宣读了可靠性工程学术团队在动态可靠性评估、维修决策与故障诊断领域的最新研究成果，报告内容引起了在场同行学者的极大关注和兴趣。

　　本次会议由美国电气和电子工程师协会（IEEE）、美国质量学会（ASQ）、美国航空航天学会（AIAA）、美国工业工程师协会（IIE）、美国环境科学和技术协会（IEST）、美国汽车工程师协会（SAE）、美国可靠性工程师协会（SRE）、美国系统安全协会（SSS）共同主办。

　　RAMS是1954年创办的国际上第一个可靠性学术会议，经过60余年的发展已成为全球范围内可靠性、维修性与安全性领域最具影响力、历史最悠久和规模最大的学术会议。本次会议主题是 “R&M: Critical to Success in a Technology Reliant World”，涵盖有 “加速寿命试验”、“基于故障物理的可靠性建模”、“可靠性与维修性在航天中的应用”等27个主题，设立50个分会场。

　　大会期间，我校代表分别与大会主席Dan Deans博士、美国加利福尼亚大学洛杉矶分校A. Mosleh教授、美国罗格斯大学C.R. Coit教授等著名学者就可靠性、维修性以及故障诊断等研究领域的热点问题开展了深入的交流与讨论，并进一步商谈未来在学术研究与人才培养等方面的交流合作。

　　今年也是我校连续第13年参加该大会，通过不断的学术交流和增进了解，极大提高了我校在可靠性学术领域的国际知名度与影响力。