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郑耀宗院士受聘为我校发展战略咨询委员会委员
文:陈伟 图:邝俊 来源:新闻中心 时间:2016-11-07 6861

  10月27日下午,中国科学院院士郑耀宗来到清水河校区访问,并受聘为我校发展战略咨询委员会委员。校党委副书记王亚非代表李言荣校长为郑耀宗院士颁发聘书。

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  王亚非代表学校对郑耀宗院士来校访问表示热烈欢迎,对郑院士长期以来对学校的关心和支持表示衷心感谢,并介绍了学校60周年建设发展等情况。他说,郑院士是微电子领域的著名专家,又曾长期担任世界著名高校校长,在治学和治校方面都取得一流成就。电子科大在总结过去60年办学经验的同时,也在展望下一个甲子的发展蓝图,这就特别需要郑院士这样的战略科学家为学校发展建言献策,加快推动“双一流”大学建设步伐。

  郑耀宗对电子科技大学60周年校庆表示祝贺,对学校一个甲子取得的成绩表示肯定。他说,60年是一个新的起点,电子科大在电子信息领域很有声誉,形成了自己的特色,十分高兴受聘为电子科技大学发展咨询委员会委员,自己一定会支持电子科大的发展,分享自己担任香港城市大学和香港大学校长期间的管理经验,为学校高层次师资队伍的建设、人才培养质量和科技创新能力的提升等贡献力量。

  据悉,郑耀宗院士还同时受聘为我校特聘讲席教授(Distinguished Professor-at-Large)。

  微电子与固体电子学院院长张怀武、人力资源部部长胡俊等参加聘任仪式。


相关链接:

  郑耀宗,我国著名微电子学专家。原籍广东中山,生于香港。曾任香港大学校长、教授。长期以来对金属-氧化硅-硅(MOS)系统及其器件物理和工艺技术进行了系统研究。发明了掺氯化氢硅氧化技术,解决了当时MOS器件和集成电路阈值电压漂移、不能稳定工作的难题,使MOS器件和电路的性能、可靠性和成品率大大提高。在国际上首先提出了MOS反型层载流子表面粗糙度散射理论,在MOS集成电路进入深亚微米阶段后,这一机理已成为决定MOS反型层载流子迁移率的主要因素,这是对MOS器件物理的一大发展。他是较早开展氮化硅技术的研究者之一。在深亚微米器件模型研究工作中取得重要成果。1999年当选为中国科学院院士。


编辑:林坤  / 审核:一戈  / 发布:林坤