成电芯论坛：微电子可靠性技术及其应用电子科技大学成电新闻网

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成电芯论坛：微电子可靠性技术及其应用

文：李小红图：李小红来源：电子学院时间：2021-09-29 163478

　　题　目：《微电子可靠性技术及其应用》

　　时　间：2021年9月29日（周三）19:30

　　地　点：电子科技大学清水河校区品学楼A108

　　主讲人：黄　云（工业和信息化部电子第五研究所重点实验室常务副主任）

　　主讲人简介：

　　黄云，电子科技大学微电子技术专业91级本科，半导体器件及物理方向95级硕士。国家级重点实验室常务副主任和学科带头人，正高级工程师，博导，享受国务院政府特殊津贴，广州市劳动模范，广州市优秀人才。在固态微波器件可靠性评价、裸芯片KGD、贮存可靠性、可靠性增长试验、电子系统故障预测与健康管理等技术方面均取得了较高的技术成果。

　　讲座介绍：

　　微电子技术正朝着“后摩尔时代”、可靠性技术正朝着失效物理方向快速发展。报告结合微电子技术发展趋势和可靠性技术基本理论，围绕集成电路芯片、封装和微电子器件的典型失效机理和可靠性问题，从“延续摩尔”维度，介绍了集成电路芯片可靠性、安全性和电磁、辐照等特殊环境效应，从“拓展摩尔”维度，介绍了典型先进封装可靠性，最后介绍了基于失效物理的可靠性仿真和故障预测及健康管理等可靠性应用技术。

　　欢迎师生前往交流！

　　　　　　　　　　　　　　　　　电子科技大学示范性微电子学院

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　2021年9月28日