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IEEE Fellow、东方理工高等研究院讲席教授David Clark Keezer做客名师讲堂

文：教师发展中心来源：电子学院党委教师工作部、人力资源部（教师发展中心）时间：2023-10-09 2825

9月21日，由教师发展中心主办、电子科学与工程学院承办的“名师讲堂”活动，特别邀请到IEEE Fellow、东方理工高等研究院讲席教授David Clark Keezer为学校师生带来“Advancing Digital Systems Test Technology from Gigahertz to Terahertz”的学术讲座，并与参会师生进行交流研讨。

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Keezer教授表示，在上个世纪90年代，数字系统进入千兆赫兹领域，随之而来的就是如何精准地测试这些系统等巨大的技术挑战。到了今天，相关技术难度持续扩大，为了保证精准测量，测量时间和流程必须保持在几十或几百飞秒。随后，Keezer教授介绍了过去三十年间发展起来的“高速”测量方法，这些方法很好地满足了当时的测试需求。而随着数字系统对于高速的定义演变为太赫兹，追求更高速的测试技术还需要很多的研究和实践。最后，David Clark Keezer教授带领与会者展望了未来的太赫兹系统，对未来满足需求的测试技术作了预测，并与现场师生就未来太赫兹通信系统及测试技术前景进行了交流和讨论，拓宽了我校师生的科研思路与视野。

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